儀器名稱

X射線衍射儀（XRD）

英文名稱

X-Ray Diffractometer

型號

日本理學S2

技術指標

zui大功率：9kw (45kV, 200mA)

theta/2theta 軸zui小步距0.0002°

theta/2theta 角度范圍3°-140°,

In-plane測試臺；多功能樣品臺；小角樣品臺；平行光附件。

應用領域

樣品的物相分析（定性分析）；晶粒尺寸測定、分析納米粒度大小及粒徑分布；物相定量分析；薄膜物相鑒定，薄膜高溫分析測量；纖維或高分子樣品的物相、取向度等；織構分析；應力分析

功能特色

此臺衍射儀可進行樣品物相的定性和定量分析，點參測定、宏觀殘余應力、晶粒大小和精細結構分析等。該儀器為高功率衍射儀，立式測角儀，樣品平放且測試過程中靜止不動，所以可以測試粉末樣品，塊體樣品及流態樣品；可以測試單晶基片上的薄膜樣品及強織構樣品；

該儀器配有標準樣品臺、多功能樣品臺、小角散射（SAXS）樣品臺、In-plane樣品臺等特殊配置，除常規theta-2theta聯動掃描測試，還可以進行掠入射測試、搖擺曲線測試、極圖測試、側傾應力測試、SAXS和In-plane等測試；可以實現平行光路和聚焦光路的自由切換。